セミコンダクタ分析サービス

リテルヒューズでは、セミコンダクタのコンポーネントとパッケージをただちに検証できる、ターンキー方式の分析サービスを提供しています。

サービス内容:

  • 走査電子顕微鏡法検査
  • 定性 X 線マイクロアナリシス
  • リアルタイム X 線検査
  • パッケージとダイレベルの断面図
  • 化学薬品による開封
  • 湿式・乾式化学方式による垂直ディレイアリング
  • 液晶ホットスポットの検出

これらのサービスでは、JEOL、Nicolet Imaging Systems、IMI Integrated、B&G Royce Instruments など定評ある企業の最先端の機材を使用します。

当社のセミコンダクタ分析サービスに関する詳細は、下記フォームよりご請求ください: