リテルヒューズでは、セミコンダクタのコンポーネントとパッケージをただちに検証できる、ターンキー方式の分析サービスを提供しています。
サービス内容:
- 走査電子顕微鏡法検査
- 定性 X 線マイクロアナリシス
- リアルタイム X 線検査
- パッケージとダイレベルの断面図
- 化学薬品による開封
- 湿式・乾式化学方式による垂直ディレイアリング
- 液晶ホットスポットの検出
これらのサービスでは、JEOL、Nicolet Imaging Systems、IMI Integrated、B&G Royce Instruments など定評ある企業の最先端の機材を使用します。
当社のセミコンダクタ分析サービスに関する詳細は、下記フォームよりご請求ください: